(73) Baumer Innotec AG, 8500 Frauenfeld, Hummelstrasse 17 (CH)
(54) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG UND/ODER ERFASSUNG VON
DISTANZEN UND DISTANZÄNDERUNGEN SOWIE VORRICHTUNG ZUR
MESSUNG UND/ODER ERFASSUNG VON MECHANISCHEN BELASTUNGEN
(72) BRÄNDLE, Daniel, 8500 Frauenfeld, Speicherstr. 38 (CH)
(72) HUSISTEIN, Roger, CH-9245 Oberbüren, Spitzrütistrasse 4 (CH)
(72) NIGG, Roger, CH-8500 Frauenfeld, Hummelstrasse 8B (CH)
(30) DE 2009 09 02 102009039664
(30) DE 2010 06 09 102010023250
(73) Murata Electronics Oy, 01620 Vantaa, Myllynkivenkuja 6 (FI)
(54) Oszillierender mikromechanischer Winkelgeschwindigkeitssensor
(72) Blomqvist, Anssi, 00890 Helsinki, Saarenmaankatu 4 A 13 (FI)
(30) FI 2004 12 31 20041708
(73) Nokia Corporation, 02150 Espoo, Keilalahdentie 4 (FI)
(54) BEREITSTELLUNG VON NAVIGATIONSINFORMATIONEN
(72) KANERVA, Mikko, J., O., FIN-00410 Helsinki, Kaarnatie 1 F 58 (FI)
(30) US 2003 02 19 447751 P
(73) KG transmitter components GmbH, 32547 Bad Oeynhausen, Oberbecksener
Strasse 76 (DE)
(72) Galinski, Udo, 32754 Porta Westfalica, Wildweg 10 (DE)
(30) DE 2008 11 14 102008057474
(73) Endress + Hauser Flowtec AG, 4153 Reinach BL 1, Kägenstrasse 7 (CH)
(54) Verfahren zum Betrieb eines magnetischinduktiven Durchflussmessers
(72) Budmiger, Thomas, 4107 Ettingen, Oberwiller Strasse 27 (CH)
(30) EP 2001 07 09 01116550
(73) Actaris SAS, 92100 Boulogne Billancourt, 62 bis rue André Morizet (FR)
(54) Flüssigkeitszähler mit automatischer Bildschirmausrichtung und offiziellen
Informationen, die von der Abdeckung übertragen werden
(72) Cros, Alain, 71680 Crêches sur Saône, 837, RN6 (FR)
(73) Novartis AG, 4056 Basel, Lichtstrasse 35 (CH)
(54) System und Verfahren zur nicht invasiven kontinuierlichen Niveaumessung
(72) Gao, Shawn, Irvine CA 92620, 2 Fort Sumter (US)
(30) US 2006 06 28 477032
(73) ELMOS Semiconductor AG, 44227 Dortmund, Heinrich-Hertz-Straße 1 (DE)
(54) Vorrichtung zur Umgebungslichtkompensation für gleichermaßen Nutzlicht
und Umgebungslicht ausgesetzten optischen Sensoren
(72) Budde, Dr. Wolfram, 44227 Dortmund, c/o ELMOS Semiconductor AG
Heinrich-Hertz-Straße 1 (DE)
(72) Büsser, Wolfgang, 44227 Dortmund, c/o ELMOS Semiconductor AG Heinrich-
Hertz-Straße 1 (DE)
(73) Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, 75015 Paris,
Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc (FR)
(54) MIKROSTRUKTURIERTES SPEKTRALFILTER UND BILDSENSOR
(72) DESIERES, Yohan, 38000 Grenoble, 46 rue Pierre Semard (FR)
(30) FR 2006 04 19 0651368
(73) Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, 79104 Freiburg, Stefan-Meier-Strasse 8
(DE)
(54) IMPLANTIERBARE VORRICHTUNG ZUM ERFASSEN EINER
GEFÄSSWANDDEHNUNG
(72) WOIAS, Peter, 79102 Freiburg, Maltererstr. 15 (DE)
(72) ZENS, Martin, 79098 Freiburg, Grünwälder Str. 16-18 (DE)
(72) BINGGER, Philipp, 79106 Freiburg, Wentzingerstr. 40 (DE)
(30) DE 2010 03 05 102010010348
(73) KHS GmbH, 44143 Dortmund, Juchostrasse 20 (DE)
(54) BERÜHRUNGSLOSE DICHTIGKEITSPRÜFUNG MITTELS IMPULSEN
(72) WOLFF, Michael, 21493 Schwarzenbek, Verbrüderungsring 14d (DE)
(72) NUDING, Oliver, 22087 Hamburg, Erlenkamp 1 (DE)
(72) WIEMER, Heinrich, 21033 Hamburg, Unterberg 39 (DE)
(30) DE 2008 10 22 102008052634
(73) Owl Biomedical, Inc., Goleta, CA 93117, 75 Robin Hill Road (US)
(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR SORTIERUNG VON PARTIKELN
MIT EINER MIKROELEKTROMECHANISCHEN VORRICHTUNG
(72) FOSTER, John S., Santa Barbara ,CA, 4678 Via Huerto (US)
(72) HARLEY, John C., Santa Barbara CA 93101, 731 Cook Avenue (US)
(72) HOVEY, Steven H., Goleta CA 93117, 269 Salisbury Avenue (US)
(72) MARTIN, Richard T., Goleta CA 93117, 5692 Berkeley Road (US)
(72) NGUYEN, Hung, Los Angeles CA 90066, 12561 Brooklake Street (US)
(72) RUBEL, Paul J., Santa Barbara CA 93109, 527 La Marina Drive (US)
(30) US 2005 08 04 196291
(73) Pieter Van Weenen&Co. Gmbh, 79183 Waldkirch, The House of Innovation
Fabrik Sonntag 3 (DE)
(54) BEGASUNGSVORRICHTUNG UND -SYSTEM
(72) KREBS, Tobias, 79261 Gutach, Landstrasse 18 (DE)
(30) DE 2007 02 21 202007002538 U
(73) Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, 75015 Paris,
Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc (FR)
(54) Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der masse von partikeln in einem
fluid
(72) Blanco-Gomez, Gérald, 38150 BOUGE CHAMBALUD, 28 route de Malmort
(FR)
(72) Agache, Vincent, 38800 CHAMPAGNIER, 4, chemin du Chasselas (FR)
(30) FR 2011 09 28 1158681
(73) P.M.L. - Particles Monitoring Technologies Ltd., 3125102 Haifa, 20 Yochanan
Hasandlar Street P.O.B. 25300 (IL)
(54) VERFAHREN ZUR MESSUNG DER PARTIKELGRÖSSE UND -
KONZENTRATION
(72) SHAMIR, Joseph, 32985 Haifa, 27/A Hasiday Umot HaOlam Street (IL)
(72) KARASIKOV, Nir, 34980 Haifa, 49 Hague Street (IL)
(30) IL 2003 07 09 15685603
(73) Vibram S.p.A., 21041 Albizzate (Varese), Via C. Colombo, 5 (IT)
(54) Anordnung und Verfahren zum Durchführen von Rutschtests
(72) Bramani, Marco, 21041 Albizzate (Varese), VIBRAM S.p.A. c/o Vibram S.p.A.
Via C. Colombo, 5 (IT)
(72) Sacchi, Massimiliano, 21041 Albizzate (Varese), VIBRAM S.p.A. c/o VIBRAM
S.p.A. Via C. Colombo 5 (IT)
(72) Faccinetto, Nicola, 21041 Albizzate (Varese), VIBRAM S.p.A. c/o Vibram
S.p.A. Via C. Colombo, 5 (IT)
(30) IT 2011 07 14 VR20110149
(73) AOTI Operating Company, Inc., Bend, Oregon 97701, 131 NW Hawthorne
Avenue, Suite 207 (US)
(54) NACHWEIS UND KLASSIFIKATION VON MIKRODEFEKTEN IN
HALBLEITERN
(72) HIGGS, Victor, Accent Optical Technologies, Hemel Hempstead,
Hertfordshire HP2 7TD, Bio-Rad House, Maylands Avenue (GB)
(30) GB 2001 03 27 0107618
(73) Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, 75015 Paris,
Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc (FR)
(54) Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts mit einer Lichtquelle umfassend
Mitteln zur Probeentnahme eines Lichtanteils um Variationen der Lichtquelleintensität
zu messen.
(72) Perraut, François, 38134 Saint-Joseph de Rivière, Le Fond de Rivière (FR)
(72) Flahaut, Thierry, 38220 Cholonge, Les Josserands (FR)
(30) FR 2011 09 02 1157811
Österreichisches Patentblatt 111. Jahrgang Nummer 4, Seite 1278
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